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产品参数
商品详情
平台说明
产品参数
- 品牌：LEEB/里博
- 产品名称：粗糙度仪标准试块
- 测量原理：略
- 制造商型号：多刻线样板Ra0.1~3.2
- 精度：±0.1%
- 测试量程：0.1~3.2μm
- 核心规格：0.1-3.2随机发货
- 箱规：-
- 描述：粗糙度标准试块
- 类型：粗糙度仪标准试块
商品详情
产品介绍 / Introduction
商品属性：
粗糙度标准试块±0.1%0.1~3.2μm略粗糙度仪标准试块LEEB/里博多刻线样板Ra0.1~3.2粗糙度仪标准试块-0.1-3.2随机发货
产品特点：
·光学玻璃材质质感好防摔
适用场合：
·用于工件表面粗糙度仪测量时校准
产品参数 / Parameter
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